摘要:随着电子封装技术向高密度、微型化和多功能化方向发展,BGA(球栅阵列)、CSP(芯片级封装)及Flip Chip(倒装芯片)等先进封装形式对材料的可靠性提出了严峻挑战。本文重点探讨了底部填充胶(Underf...
了解更多 +2026
芯片基板热循环测试失败?可能是你的底部填充胶CTE 匹配没做好在先进封装(如 Flip Chip, BGA, CSP)的可靠性验证中,热循环测试(Thermal Cycling, TC) 往往是决定产品能否量产的“生死关”。许多工...
2026
近日,东莞市汉思新材料科技有限公司(以下简称“汉思新材料”)成功斩获“一种温控晶振小间距芯片填充胶及其制备方法”发明专利(公开号:CN121343527A)。依托突破性创新配方设计,该产品可实现≤50微米窄间隙场...
2025
汉思新材料已获得芯片底部填充胶及其制备方法的专利,专利名为“封装芯片用底部填充胶及其制备方法”,授权公告号为CN116063968B,申请日期为2023年2月,授权公告日为2025年(具体月份因来源不同存在差异,但不影...
2025
汉思底部填充胶:提升芯片封装可靠性的理想选择一、底部填充胶的作用与市场价值在电子封装领域,底部填充胶(Underfill)已成为提升芯片可靠性不可或缺的关键材料。随着芯片封装技术向高密度、微型化和多功能化演进...
请填写您的需求,我们将尽快联系您