公司新闻 - 汉思化学

芯片基板热循环测试失败?可能是你的底部填充胶CTE 匹配没做好!

2026-05-13

芯片基板热循环测试失败?可能是你的底部填充胶CTE 匹配没做好在先进封装(如 Flip Chip, BGA, CSP)的可靠性验证中,热循环测试(Thermal Cycling, TC) 往往是决定产品能否量产的“生死关”。许多工...

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